提供するサービス

電子部品特性評価試験装置開発サービス

組み込みシステム・IOT機器開発.comを運営する山勝電子工業は、電子部品特性評価試験装置開発サービスを提供しています。
汎用の試験装置では対応できないような評価試験・検査装置の開発委託先として、大手電子部品メーカー様に選ばれています。
試験治具として基板の開発も行っていますが、当社の強みは、装置全体の開発を行える点にあります。組み込みハードウェア・ソフトウェアの開発、そして筐体・ラックといったメカ設計、組立・デバック・出荷検査まで、装置全体の開発を一貫対応します。

＜評価試験・検査装置開発サービス＞
・LD（半導体レーザー）エージング装置
・LD（半導体レーザー）クロストークテスター
・ハイパワーLD（半導体レーザー）ライフ試験装置
・カラーフィルタ検査装置
・センサーモジュール検査装置
・TEG（熱電発電機）モジュールテスター
・G6光学系検査装置
・CMOSセンサー特性評価試験装置
・HIC出荷試験装置　等

電子部品特性評価試験装置開発サービスの
3つの特徴

POINT 01

要求検査仕様に合致した、最適なシステム構築を行います

電子部品の特性評価試験では、電力・電圧・電流・周波数・歪率・波形形状など、多様な試験項目が設定され、電子部品の特性によって項目は様々です。汎用試験装置ではすべての項目に対応することはできず、特注の試験装置が必要になりますが、システム構成は千差万別であり、システム設計力が求められます。

当社では長年の開発への取り組みにより、試験装置開発ノウハウを培ってきました。ハード・ソフト・メカの知見をあわせもち、お客様が求めるご要望に合致した試験装置を提供させて頂きます。

POINT 02

ハード・ソフトの組み込み設計～全体設計、基板実装から組立・配線のものづくり領域も一貫対応

当社が選ばれる理由は、前述した装置全体としてのシステム設計力に加え、基板実装・組立・配線までのものづくり領域を一貫対応できる点にあります。また、デバックはもちろん、お客様ご要望に基づいた出荷検査に対応できる点も、評価頂いてます。

設計についても、システム設計＋組み込みハードウェア設計・ソフトウェア設計をすべて社内で行っているため、最適な試験装置を実現できる点も当社の強みです。

POINT 03

既存特性評価試験装置のレトロフィット

お客様の事業所内で稼働する既存の試験装置のレトロフィットにも対応させて頂きます。新規で一から特性評価試験装置を開発することも可能ですが、長年稼働する試験装置を用いることでコスト低減、開発リードタイムを短縮したいというご要望も多く頂きます。

新機能の付加、制御仕様の最新化など、ご要望に応じて最適な改造仕様を提案させて頂きますので、お気軽にご相談ください。

電子部品特性評価試験装置開発サービス開発実績

電子部品特性評価試験装置開発サービスに関する技術情報

電子部品特性評価試験装置開発サービスに関するよくある質問

Q 特注試験装置の開発を一貫対応していると聞きました。設計はハード・ソフトすべて自社ですか？

はい、自社にて対応いたします。回路設計・基板設計、ファームウェア開発、メカ設計は全て社内で対応します。（※設計工数・仕様によっては、グループ会社も含めて対応をする場合はあります。）
Q 既存で汎用のパワーメータを使用しています。この計測器を用いて多チャンネル対応の特注計測機の開発は可能ですか？

仕様によっては可能です。汎用の試験装置を用いることで、開発コスト低減、開発リードタイムの短縮が可能な場合がありますので、ご要望を頂きましたら検討させて頂きます。
Q 電子部品の特性評価試験装置の開発委託先を検討しています。開発実績を教えてください。

LD（半導体レーザ）、カラーフィルタ、CMOS、HICなどの特性試験装置開発実績を持ちます。具体的な装置仕様については、お問い合わせ下さい。

電子部品特性評価試験装置開発サービス